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Dr. José Ramón Alvarez Bada

Profesor de Planta - Facultad de Ingeniería
Materia(s) que imparte: Filosofía de la Ciencia y Método Científico

Educación

Ingeniería en Electrónica y Comunicaciones

Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey

Maestría en Física

Arizona State University

Doctorado en Física

Arizona State University
Breve Biografía

Realizó estudios profesionales en el Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey, Campus Estado de México (ITESM-CEM), graduándose con mención honorífica como ingeniero en electrónica y comunicaciones en diciembre de 1993. Obtuvo los grados de maestría en ciencias con especialidad en física (1996) y doctorado en filosofía con especialidad en física (1998) en Arizona State University. En la tesis doctoral, ""Electron Energy Loss Near-Edge Structure Calculations"", se analizan las propiedades eléctricas y ópticas de las variantes alotrópicas de dióxido de silicio y de compuestos intermetálicos Ni-Al. Ha publicado trabajos de investigación y divulgación en diversas áreas de ingeniería, ciencia y educación.

En noviembre de 2006, concluyó el Diplomado en Tecnologías de Sistemas Microelectromecánicos organizado por la Fundación México-Estados para la Ciencia en colaboración con el Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica. También es egresado del Diplomado en Convergencia y Tecnologías de Nueva Generación ofrecido por el ITESM-CCM (2008). Cuenta con experiencia como instructor Cisco CCNA. Fue profesor de planta del Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica, así como director del programa de Maestría en Administración de las Telecomunicaciones del ITESM-CCM entre 1999 y 2009, donde asesoró 28 tesis de maestría y fue senador académico entre los años 2003 y 2006, así como candidato al Sistema Nacional de Investigadores entre 2002 y 2005.

A partir del año 2010, ha sido profesor de la Facultad de Ingeniería de la Universidad Anáhuac México Norte. También fue miembro del comité técnico de Ingeniería Mecatrónica del Centro Nacional para la Evaluación de la Educación Superior (CENEVAL) por el período 2012-2016. Actualmente coordina el programa de Ingeniería Biomédica, en el que también colabora como docente y co-desarrollador del plan de estudios y contenidos en línea.
Experiencia Laboral

  • Profesor de planta, Departamento de Ingeniería Electrónica, ITESM-CCM (1999 - 2001).
  • Director de la Maestría en Administración de Telecomunicaciones, ITESM-CCM (2001-2009).
  • Coordinador de Ingeniería Biomédica, Universidad Anáhuac (2011 - Presente).
Experiencia Docente

  • Profesor de la División Preparatoria, ITESM-CEM (1994).
  • Teaching/Research Assistant, Arizona State University (1995-1998).
  • Profesor del Departameto de Ingeniería Electrónica, ITESM-CCM (1998-2009).
  • Profesor de la Facultad de Ingeniería, Universidad Anáhuac (2010 - Presente).
Publicaciones

  • Sánchez Vergara, M.E.; Canseco Juárez, M.J.; Ballinas Indili, R.; Carmona Reyes, G.; Álvarez Bada, J.R.; Toledano, C.Á. Studies on the Structure, Optical, and Electrical Properties of Doped Manganese (III) Phthalocyanine Chloride Films for Optoelectronic Device Applications. Coatings2022,12,246. https:// doi.org/10.3390/coatings12020246
  • M.E. Sánchez-Vergara, R. Salcedo, J.R. Alvarez-Bada et al. (2018). TCNQ molecular semiconductor of the Cu(II)TAAB macrocycle: Optical and electrical properties. Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy 200, 158-166.
  • M.E. Sánchez-Vergara, L. Fomina, J.R. Alvarez-Bada et al. (2018). Synthesis, characterization and semiconducting behavior of N,2,5- trisubstituted pyrroles. Journal of Molecular Structure 1171, 45-53.
  • A.R. Vázquez-Olmos, M.E. Sánchez-Vergara, J.R. Alvarez-Bada et al. (2018). Mechanochemical Synthesis of YFeO3 Nanoparticles: Optical and Electrical Properties of Thin Films. Journal of Cluster Science 29, 2 (marzo de 2018), 225-233.
  • M.E. Sánchez-Vergara, J.R. Alvarez-Bada et al. (2017). Preparation and Structural Characterization of Metallophthalocyanine Particles Embedded in a Polymer Matrix, en Y. Yilmaz (ed.) Phthalocyanines and Some Current Applications. InTechOpen, 2017.
  • M.E. Sánchez-Vergara, M. Leyva-Esqueda, J.R. Alvarez Bada (2017). An Application of Scanning Electron Microscopy to Solar Device Design and Manufacturing, en A. Méndez-Vilas (ed.). Microscopy and Imaging Science: Practical Approaches to Applied Research and Education. Badajoz, España: Formatex Microscopy Book Series, No. 7.
  • M.E. Sánchez-Vergara, J.R. Alvarez-Bada et al. Morphological and Optical Properties of Dimetallo-Phthalocyanine-Complex Thin Films. Advances in Materials Physics and Chemistry 4 (2014), 20-28.
  • M. Lozano-González, M.E. Sánchez Vergara, J.R. Alvarez-Bada et al. Synthesis and Optical Properties of 2-benzylidene-1-indanone Derivative Thin Films. Journal of Materials Chemistry C, 2, 28 (2014), 5607-5614.
  • M.E. Sánchez-Vergara, M.A. Ruiz-Farfan, J.R. Alvarez-Bada et al. (2007). Electrical and optical properties of C46H22N8O4KM (M=Co,Fe,Pb) molecular-material thin films prepared by the vacuum thermal evaporation technique. Spectrochimica Acta Part A 66, 561-567.
  • F.L. Pontecorvo-Cassereau, J.R. Alvarez-Bada, P. Ponce, M.Paz (2006). On the Choice of Platform for Electronic Learning: BlackBoardTM vs Lotus Notes/LearningSpaceTM. Proceedings of the Fifth IASTED International Conference on Web-Based Education.
  • P. Ponce-Cruz, F.L. Pontecorvo-Cassereau, J.R. Alvarez-Bada et al. (2006). Artificial Neural-Network Speed Estimator in a DTC Scheme. Proceedings of the Fifth IASTED International Conference on Web-Based Education.
  • J.R. Alvarez-Bada. Estrategias para un buen manejo del tiempo. Aprendizaje Basado en Problemas: De la Teoría a la Práctica. (C. Sola, ed.) México, 2005.
  • J.R. Alvarez, P. Rez (2001). Calculation of Electronic Properties of Boundaries in Ni3Al. Acta Materialia 49, 795-802.
  • L.A.J. Garvie, P. Rez, J.R. Alvarez et al. (2000). Bonding in alpha-quartz (SiO2): A view of the unoccupied states. American Mineralogist 85, 732-738.
  • J.R. Alvarez, P. Rez (2001). Calculation of Electronic Properties of Boundaries in Ni3Al. Acta Materialia 49, 795-802.
  • P. Rez, J.R. Alvarez, Ch. Pickard (1999). Calculation of Near Edge Structure. Ultramicroscopy 78, 175-183.

José Ramón Alvarez Bada